München 2004 – scientific programme

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A: Atomphysik

A 15: Poster 2

A 15.20: Poster

Thursday, March 25, 2004, 14:00–16:00, Schellingstr. 3

Methoden zur Untersuchung der nicht-sequentiellen Doppelionisation — •R. Wiehle, B. Witzel, P. Kaminski, W. Kamke und H. Helm — Universität Freiburg, Institut für Physik

Der Prozess, welcher der nichtsequentiellen Doppelionisation zugrunde liegt ist noch immer nicht vollständig bekannt. Im sogenannten Rückstreumodell wird angenommen, dass erst ein Elektron durch das Laserfeld abgelöst und dann im oszillierenden elektrischen Feld des Lasers zum Ion zurückbeschleunigt wird. Durch die Wechselwirkung wird ein weiteres Elektron entweder direkt abgelöst oder angeregt und vom Laser ionisiert. Viele experimentelle Ergebnisse können mit diesem Modell qualitativ verstanden werden. Ungeklärt ist, warum bei niedrigen Laserintensitäten bei denen die Energie eines zurückgestreuten Elektrons nicht ausreicht, um das Ion anzuregen, dennoch doppelt geladene Ionen beobachtet werden [1].

Wir zeigen Messungen, bei denen Elektronen und Ionen nachgewiesen werden, die im Fokus eines IR-Kurzpuls-Lasers erzeugt wurden. Photoelektronen werden mittels eines Bildspektrometers energie- und winkelaufgelöst detektiert, für die Ionen wird ein TOF-Spektrometer benutzt. Variiert werden Laserintensität und -wellenlänge. Charakteristische Strukturen in den Elektronenspektren können mit dem Auftreten doppelt geladener Ionen in Verbindung gebracht werden. In einem Koinzidenz Experiment werden nur die Elektronen aufgenommen, die von einer Doppelionisation stammen.
Wiehle and Witzel, PRL 89, 0223002