Regensburg 2004 – scientific programme

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CPP: Chemische Physik und Polymerphysik

CPP 15: POSTER: Polymers and Biomaterials

CPP 15.45: Poster

Tuesday, March 9, 2004, 17:00–19:00, B

Infrarotellipsometrie zur Untersuchung dünner anisotroper organischer Filme — •M. Gensch¹, K. Hinrichs¹, K. Sahre², K.-J. Eichhorn², Th. Köpnick³, B. Schulz³, N. Esser¹, E.H. Korte¹ und A. Röseler¹ — ¹Institut für Spektrochemie und Angewandte Spektroskopie - Institutsteil Berlin, Albert-Einstein-Straße 9, D-12489 — ²Institut für Polymerforschung, Hohe Straße 6, D-01062 Dresden — ³Institut für Dünnschichttechnologie und Mikrosensorik e.V., Kantstraße 55, D-14513 Teltow

Die Infrarot (IR) Ellipsometrie liefert in einem Experiment einen umfangreichen Datensatz, der die Bestimmung der Dicke und der optischen Konstanten von anisotropen Filmen erlaubt. Zur Bestimmung werden iterative Berechnungen verwendet, die auf einem Modell aus der klassischen elektromagnetischen Theorie beruhen. Aus der Interpretation der anisotropen optischen Konstanten lassen sich Rückschlüsse auf strukturelle Eigenschaften in einer Schicht ziehen [1]. Verschiedene mittels eines "spincoating" Verfahrens präparierte Polymerfilme wurden untersucht. Präparationsabhängige Unterschiede der anisotropen optischen Eigenschaften, wie sie z.B. im Bereich der Carbonylstreckschwingung von unterschiedlich dicken PI2611 Filmen auftreten, werden hinsichtlich daraus ableitbarer Strukturmodelle diskutiert. [1] K. Hinrichs, D. Tsankov, E.H. Korte, A. Röseler, K. Sahre, K.-J. Eichhorn, Appl. Spectrosc. 56,737-743 (2002)