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DS: Dünne Schichten
DS 10: FV-internes Symposium „Analytische Elektronenmikroskopie an dünnen Schichten“
Dienstag, 9. März 2004, 09:30–12:50, HS 32
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09:30 | DS 10.1 | Hauptvortrag: Quantitative konvergente Elektronenbeugung und ihre Anwendungen — •Joachim Mayer |
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10:10 | DS 10.2 | Hauptvortrag: Quantitative Z-Kontrast-Abbildung zur Mikrostrukturcharakterisierung — •Helge Heinrich |
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10:50 | DS 10.3 | Hauptvortrag: Electron Energy-loss Spectrometry in the Electron Microscope — •Ferdinand Hofer |
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11:30 | DS 10.4 | Hauptvortrag: Energy-filtering transmission electron microscopy in materials science — •Wilfried Sigle |
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12:10 | DS 10.5 | Hauptvortrag: Kantenfeinstrukturen in Elektronen-Energieverlustspektren — •Helmut Kohl |