Regensburg 2004 – wissenschaftliches Programm
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DS: Dünne Schichten
DS 22: Postersitzung
DS 22.30: Poster
Dienstag, 9. März 2004, 14:30–17:00, Poster B
Viskositätsmessung an dünnen Schichten des Phasenwechselmediums AgIn-Sb2Te mit einem bulge-tester — •Martin Salinga, Stefan Ziegler, Andreas Schropp, Johannes Kalb und Matthias Wuttig — I.Physikalisches Institut A, RWTH-Aachen, Postfach, 52065 Aachen
Auf der Suche nach neuen Materialien für die optische Datenspeicherung auf Basis von Phasenwechselmedien ist das Verständnis der Kristallisationskinetik essentiell. Einer der zentralen zu optimierenden Aspekte ist die Geschwindigkeit des Kristallwachstums, welche einer der Schlüsselparameter für die Datenübertragungsrate ist.
Das Wachstum lässt sich durch Grenzflächen-nahe Diffusion beschreiben. Da die Stokes-Einstein-Gleichung einen direkten Zusammenhang zwischen Diffusion und Viskosität herstellt, besteht die Möglichkeit, durch Messung der Viskosität auf Diffusionseigenschaften und damit auf die Wachstumsgeschwindigkeit zu schließen.
Die hier vorgestellten Ergebnisse beruhen auf Experimenten mit AgIn-Sb2Te an einem bulge-tester, bei denen die Temperaturabhängigkeit der Viskosität unterhalb der Glasübergangstemperatur Tg gemessen wird. Die auf diese Art ermittelten Daten werden mit Messungen oberhalb Tg verglichen.