Regensburg 2004 – wissenschaftliches Programm

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HL: Halbleiterphysik

HL 44: Poster II

HL 44.13: Poster

Donnerstag, 11. März 2004, 16:30–19:00, Poster A

Bestimmung der lokalen Empfindlichkeit eines EMR-Sensors mittels Mikromagneten — •M. Hoener¹, O. Kronenwerth¹, M. Holz², Ch. Heyn¹, D. Grundler¹ und D. Heitmann¹ — ¹Institut für Angewandte Physik und Zentrum für Mikrostrukturforschung der Universität Hamburg, Jungiusstr. 11, 20355 Hamburg — ²I.Institut für Theoretische Physik Universität Hamburg, Jungiusstr. 9, 20355 Hamburg

Metall-Halbleiter-Hybridstrukturen zeigen einen großen geometrischen Magnetowiderstand. Dieser sogenannte Extraordinary-Magnetoresistance-(EMR)-Effekt könnte zukünftig für die Herstellung von Magnetfeldsensoren bzw. Festplatten-Lesekopfe geeignet sein. Wir haben mikrostruktrierte Hybridsysteme hergestellt, bestehend aus einem zweidimensionalen Elektronensystem (2DES) in einer InAs/GaAs-Heterostruktur und einem Au-Film. Der Au-Film wurde mittels Cleaved Edge Overgrowth auf der (110)-Spaltfläche im Bereich der 2DES-Mesa präperiert. Weiter haben wir auf verschiedene EMR-Sensoren einzelne Mikromagnete aus Fe integriert, die lokal definierte Streufelder erzeugten. Damit wurde die lokale Magnetfeldempfindlichkeit der EMR-Sensoren untersucht. Dazu führten wir bei 4,2 K Magnetotransportmessungen durch, bei denen ein äußeres Magnetfeld den Magnetisierungszusand der Mikromagnete steuerte. Durch Variation der Dicke des Mikromagneten, seiner Position auf dem EMR-Sensor, der 2DES-Ladungsträgerdichte sowie der Geometrie des Sensors wurde aus den Transportdaten Parameter für optimierte EMR-Sensoren ermittelt. Diese Arbeit wurde von der DFG im Rahmen des SFB 508 gefördert.