Regensburg 2004 – wissenschaftliches Programm

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M: Metallphysik

M 18: Postersitzung

M 18.15: Poster

Dienstag, 9. März 2004, 14:30–16:30, Saal C

Materialforschung mit der Bonner Positronen Mikrosonde — •M. Haaks¹, I. Müller¹, S. Sonneberger¹, T. E. M. Staab¹, C. Zamponi¹, K. Maier¹, H. Bihr², G. Tempus³, K. Bennewitz⁴, T. Lampe⁴, H. Tönshoff⁵ und S. Eichler⁶ — ¹Helmholtz Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Nußallee 14-16, D-53115 Bonn — ²LEO Elektronenmikroskopie GmbH, Carl-Zeiss-Str. 56, 73447 Oberkochen — ³Airbus GmbH, Hünefeldstraße 1-5, 28199 Bremen — ⁴Zentrallabor Volkswagen AG, 38436 Wolfsburg — ⁵Institut für Fertigungstechnik, Schloßwerdersrt. 5, 30159 Hannover — ⁶Freiberger Compound Materials GmbH, Am Junger Löwe Schacht 5, 09599 Freiberg

Mit der Bonner Positronen Mikrosonde (BPM) steht ein modernes Laborgerät zur ortsaufgelösten Untersuchung von Defekten in Festkörpern zur Verfügung. Das Gerät besteht aus einem Feinfokus Positronenstrahl in Kombination mit einem konventionellen Rasterelektronenmikroskop. Es werden Ergebnisse der ortsaufgelösten Positronen Annihilationsspektroskopie aus unterschiedlichen Bereichen der Materialforschung vorgestellt: • Die Untersuchung der plastischen Zone vor Ermüdungsrissen in den Aluminiumlegierungen AA 2024 und AA 6013. (3) • Eine neue Methode der Lebensdauerabschätzung im Bereich der dynamischen Beanspruchung von Werkstoffen. (4) • Abbildung der lokalen Schädigung in Spanwurzeln im Eisenwerkstoff C45E. (5) • Die Schädigung durch Einkorn-Kratzen im oberflächennahen Bereich an GaAs-Wafern. (6)