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MA: Magnetismus

MA 13: Poster:Schichten(1-23),Spinabh.Trsp(24-41),Exch.Bias(42-56),Spindyn.(57-67),Mikromag.(68-76),Partikel(77-90),Spinelektr.(91-97),Elektr.Theo.(98-99),Mikromag+PhasÜ+Aniso.(100-105),Magn.Mat.(106-118),Messmethod.(119-121),Obflm.+Abbverf.(122-123)

MA 13.92: Poster

Dienstag, 9. März 2004, 15:00–19:00, Bereich A

Ni₂MnIn-Schichten: Herstellung sowie elektrische und magnetische Charakterisierung — •Franziska Schultz, Malte Kurfiß, Rainer Anton, Christian Pels, Guido Meier und Ulrich Merkt — Universität Hamburg, Institut für Angewandte Physik und Zentrum für Mikrostrukturforschung, Jungiusstr.11, 20355 Hamburg

Die Heusler-Legierung Ni₂MnIn ist ein halbmetallischer Ferromagnet, für den 100% Spinpolarisation an der Grenzfläche zu InAs vorausgesagt wird [1]. In der Spinelektronik ist diese hohe Spinpolarisation für die Injektion von polarisierten Elektronen in Halbleiter von großer Bedeutung. Für die Herstellung der Schichten werden zwei Methoden verwendet: thermisches Koverdampfen im Ultrahochvakuum und DC-Magnetron-Sputtern. Als Substrate dienen InAs, Si und C. Das Materialsystem Ni₂MnIn/InAs(100) bildet keine Schottky-Barriere an der Grenzfläche und besitzt eine vorzügliche Gitteranpassung. In Wachstumsreihen mit variierten Substrattemperaturen wird die Kristallstruktur optimiert. Die Stöchiometrie der Schichten wird mit Röntgenspektroskopie (EDX) im Transmissions- und Rasterelektronenmikroskop kontrolliert, die Struktur durch Elektronenbeugung. Die Schichten werden für die elektrische und magnetische Charakterisierung mikrostrukturiert. Die elektrische Charakterisierung geschieht durch R(T)-Messungen, die magnetischen Eigenschaften werden mit SQUID- und Hall-Mikromagnetometrie sowie mit dem Magnetkraftmikroskop untersucht. Mittels Punktkontakt-Andreev-Spektroskopie [2] wird der Grad der Spinpolarisation bestimmt.

[1]K.A.Kilian und R.H.Victora, IEEE Trans.Mag. 37, 1976 (2001).

[2]R.J.Soulen et al., Science 282, 85 (1998).