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O: Oberflächenphysik

O 10: Teilchen und Cluster I

O 10.8: Vortrag

Montag, 8. März 2004, 17:30–17:45, H43

Leitfähigkeitsuntersuchungen an freien Silber-Nanodrähten — •Dieter Wagner¹, Andreas Graff² und Uwe Kreibig¹ — ¹I. Physikalisches Institut 1A, RWTH Aachen, 52056 Aachen — ²MPI für Mikrostrukturphysik, 06120 Halle

Es wurden auf chemischem Wege Silber-Nanodrähte hergestellt, an denen elektrische Leitfähigkeitsmessungen durchgeführt wurden. Diese Drähte können mit Durchmessern zwischen 15 und 80 nm, und Längen bis 60 000 nm präpariert werden. Durch TEM-Analysen wurden einkristalline Struktur und Oberfläche der Drähte eingehend untersucht.

Elektronische Eigenschaften solcher Drähte mit Durchmessern auf der Nanometerskala weichen erheblich von den Eigenschaften dickerer Drähte ab. Um den Einfluss von Einbettmedien bzw. Substrat während der elektrischen Messungen auszuschliessen, war es notwendig, daß die Drähte freitragend sind. Es werden Ergebnisse vorgestellt die unter angelegtem äußeren Magnetfeld (≤ 1T) und bei tiefen Temperaturen (∼ 4,2 K) gewonnen wurden .