Regensburg 2004 – wissenschaftliches Programm
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O: Oberflächenphysik
O 33: Organische Dünnschichten II
O 33.1: Vortrag
Donnerstag, 11. März 2004, 11:15–11:30, H39
Differentielle Reflexionsspektroskopie an hochgeordneten organischen Schichten: PtOEP auf Kaliumbromid — •Thomas Dienel1, Holger Proehl1, Yong-Young Noh2, Torsten Fritz1 und Karl Leo1 — 1Institut für Angewandte Photophysik, Technische Universität Dresden, 01062 Dresden, Germany — 2Department of Materials Science and Engineering, Kwangju Institute of Science and Technologie (K-JIST), Gwangju, South Korea
In elektronischen Bauelementen aus organischen Molekülen ist die Beweglichkeit der Ladungsträger, die durch die Anordnung der Moleküle beeinflusst werden kann [1], von entscheidender Bedeutung. Ausgehend von dieser Veröffentlichung, in der die Molekülorientierung in PTOEP (Platin-2,3,7,8,12,13,17,18-Oktaethyl-21H,23H-Porphyrin) Filmen auf Kaliumbromidkristallen in Abhängigkeit von der Präparation des Substrats beschrieben wird, wurde dieses Materialsystem im UHV untersucht.
Die Verwendung von organischer Molekularstrahlepitaxie (OMBE) in Kombination mit Differentieller in situ Reflexionsspektroskopie (DRS) ermöglicht dabei, durch die Korrelation von optischen Eigenschaften und Schichtstruktur, das Schichtwachstum zu untersuchen. Für dünne Schichten auf transparenten Substraten spiegelt das DRS-Signal die Absorption der adsorbierten Schicht wider. Die Unterschiede beim Übergang von der Monomerabsorption des Einzelmoleküls zur Kristallabsorption in der wachsenden PtOEP-Schicht, konnte auf die Substratpräparation zurückgeführt werden.
[1] Y.-Y. Noh et al., Adv. Mater., 2003, 15, 699