Regensburg 2004 – scientific programme
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O: Oberflächenphysik
O 6: Struktur und Dynamik reiner Oberflächen
O 6.5: Talk
Monday, March 8, 2004, 12:15–12:30, H45
Kohärente Röntgenbeugung (XPCS) an Oberflächen mit weisser Strahlung — •Tobias Panzner1, W. Leitenberger1, J. Grenzer1, K. Morawetz1, U. Pietsch1 und H. Möhwald2 — 1Institut für Physik, Universität Potsdam, 14415 Potsdam, Deutschland — 2MPI für Kolloid- und Grenzflächenforschung, 14476 Potsdam-Golm, Deutschland
In den letzten Jahren hat sich die kohärente Röntgenstreuung als zerstörungsfreie Methode zur Messung der Dynamik an Oberflächen etabliert. Unter Ausnutzung der Energieabhängigkeit des Streuvektors wurde im letzten Jahr an der energie-dispersiven (EDR)-Beamline bei BESSY II eine Reflektionsanordung zur Messung von Speckle-Pattern an rauhen Oberflächen etabliert. Der von einem Ablenkmagneten erzeugte weiße Strahl liefert eine nutzbare Intensität im Energiebereich zwischen 5-20 keV. Erste Beugungsexperimente an Lochblenden mit Durchmessern zwischen 5 und 50 µ m sowie Lochpaaren erlaubten die energieabhängige Messung der transversalen Kohärenzlänge (ca. 35 µ m bei 6 keV) sowie die Bestimmung der virtuellen Quellgrösse.
Statische Reflektionsexperimente mit kohärenter weißen Strahlung an verschiedartigen Probenoberflächen (organischer Film auf Si, Al-Schicht auf Si, Au auf Si) lieferten ortsabhängig stark variierende Reflexionskurven (Specklemuster), die sich zu normalen Parratschen Reflektionskurven aufsummieren ließen. Durch Wahl des Einfallswinkels lassen sich die erhaltenen Specklemuster entweder der räumlichen Fluktuation der Materialdichte im Inneren der Filme oder der Rauhigkeit der Probenoberfläche zuordnen.