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O: Oberflächenphysik

O 9: Rastersondentechniken I

O 9.6: Vortrag

Montag, 8. März 2004, 17:00–17:15, H36

Warum die "shear force" Distanzregelung auch im UHV funktioniert — •S. Hoppe, G. Ctistis, J.J. Paggel und P. Fumagalli — Institut für Experimentalphysik, Freie Universität Berlin, Arnimallee 14, 14195 Berlin

Die Messung der Kräfte, zwischen einer lateral oszillierenden Spitze und der Substratoberfläche ist eine gängige Methode die Abstandskontrolle eines Nahfeldmikroskops zu realisieren. Diese Methode gehört zwar zum Standard, jedoch ist die Natur der Wechselwirkung weitgehend unbestimmt. Obwohl die Spitze bei Messungen im Ultrahochvakuum in mechanischem Kontakt zur Probe zu sein scheint, ist keine Beschädigung der Probenoberfläche erkennbar. Die Kombination aus sogenannten Distanzkurvenmessungen und Strommessung bietet die Möglichkeit, die Wechselwirkung zwischen Probe und Spitze genauer zu untersuchen. Mit Hilfe des Modells des harmonischen Oszillators werden Feder- und Dämpfungskonstante bestimmt. Durch Messung des elektrischen Kontaktes kann der Punkt der Probenberührung identifiziert werden. Die Messungen wurden an metallischen Oberflächen durchgeführt. Diese Arbeit wurde unterstützt durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft im Rahmen des SFB 290.