Berlin 2005 – wissenschaftliches Programm
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A: Atomphysik
A 13: Poster HU 2
A 13.35: Poster
Dienstag, 8. März 2005, 08:30–18:30, Poster HU
Neue Ionen-Quelle zur Untersuchung negativer Metall-Ionen mittels Photodetachment-Mikroskopie — •Sophie Kröger1, Christophe Blondel2, Walid Chaibi2, Christian Delsart2 und Cyril Drag2 — 1Institut für Atomare Physik und Fachdidaktik, TU Berlin, Hardenbergstr. 36, 19623 Berlin — 2Laboratoire Aimé Cotton, Bât. 505, F-91405 Orsay, Frankreich
Die Photodetachment-Mikroskopie hat sich als
hochauflösende Messmethode zur Bestimmung der Elektronen-Affinität
negativer Ionen bewährt [1]. Bisher war diese Methode aufgrund der
verwendeten Ionen-Quelle auf negative Ionen beschränkt,
die durch Dissoziation
von Molekülen in einer Gasentladung entstehen.
Um diese Methode in Zukunft auch für die Untersuchung negativer
Metall-Ionen
zugänglich zu machen, wurde eine neue Ionen-Quelle
nach dem Vorbild einer Ionen-Quelle von Hotop und Lineberger [2]
entwickelt, in der
die negativen Ionen durch Sputtern erzeugt werden.
Damit ist es erstmalig möglich, negative Metall-Ionen mittels
Photodetachment-Mikroskopie zu untersuchen.
Erste Messungen am Element Gold werden vorgestellt und
der Einfluss der Polarisation der Laserstrahlung auf
das Interferenzbild der Elektronen diskutiert.
[1] C. Blondel et al., Euro. Phys. J. D, 5, 207 (1999).
[2] H. Hotop, W. C. Lineberger, J. Chem. Phys. 58, 2379 (1973).