Berlin 2005 – wissenschaftliches Programm

Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

O: Oberflächenphysik

O 15: Postersitzung (Adsorption an Oberfl
ächen, Epitaxie und Wachstum, Organische Dünnschichten, Oxide und Isolatoren, Rastersondentechniken, Zeitaufgelöste Spektroskopie, Methoden)

O 15.58: Poster

Freitag, 4. März 2005, 17:00–20:00, Poster TU D

Lokal aufgelöste berührungslose Leitfähigkeitsmessungen (Wirbelstrommikroskopie) — •Tino Roll, Martin Görlich und Marika Schleberger — Universität Duisburg-Essen, Fachbereich Physik, 45117 Essen

Bei der Wirbelstrommikroskopie wird ein Rasterkraftmikroskop mit einem magnetischen AFM-Cantilever im non-contact-Modus betrieben. Dessen Oszillation führt zu Wirbelströmen in leitenden Materialien. Aufgrund dieser Wirbelströme kommt es zu einer zusätzlichen Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe. Die Dämpfung der Cantilever-Oszillation dient als Messgröße für die mikroskopische Leitfähigkeit der Probe, das heißt Flächen konstanter Dämpfung entsprechen Flächen konstanter Leitfähigkeit. Ebenso ist es möglich, magnetische Domänen mit Hilfe leitender oszillierender AFM-Spitzen abzubilden. Experimentelle Daten zeigen, dass die Wirbelstrommikroskopie eine geeignete Methode zur Untersuchung der Leitfähigkeit ohne Kontakt zur Oberfläche ist.