Berlin 2005 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 15: Postersitzung (Adsorption an Oberfl
ächen, Epitaxie und Wachstum, Organische Dünnschichten, Oxide und Isolatoren, Rastersondentechniken, Zeitaufgelöste Spektroskopie, Methoden)

O 15.68: Poster

Freitag, 4. März 2005, 17:00–20:00, Poster TU D

Abbildung biologischer Proben mit dem CE-Modus in derRasterkraftmikroskpie — •Jens Falter, Jan-Erik Schmutz, Daniel Ebeling, Marcus Schäfer und Hendrik Hölscher — Center for NanoTechnology (CeNTech) und Physikalisches Institutder Universität Münster, Gievenbecker Weg 11, 48149 Münster

Die dynamische Rasterkraftmikroskopie ermöglicht neue Einblicke und Erkenntnisse in die Oberflächenphysik. Die Wechselwirkungen an Oberflächen können mit der dynamischen Kraft-Spektroskopie ausgemessen werden. Bei tiefen Temperaturen im Hochvakuum ist dies sogar mit dreidimensionaler Auflösung möglich [1]. Aufgrund verschiedener experimenteller Probleme war diese Methode aber auf das Vakuum beschränkt. Um dynamische Rasterkraftspektroskopie auch an Luft und in Flüssigkeiten zu ermöglichen, haben wir den sogenannten CE-Modus implementiert. Mit dieser Technik ist die Rekonstruktion der Spitzen-Proben-Wecheselwirkung ebenfalls möglich [2]. Wir haben die Möglichkeiten dieses Ansatzes insbesondere für biologische Proben untersucht. Im Vordergrund stehen dabei Messungen in Flüssigkeiten, dem natürlichen Medium für biologische Proben.

[1] H. Hölscher, S. M. Langkat, A. Schwarz, R. Wiesendanger, Appl. Phys. Lett. 81, 4428 (2002)

[2] H. Hölscher, B. Gotsmann, A. Schirmeisen, Phys. Rev. B 68, 153401 (2003)