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O: Oberflächenphysik

O 36: Postersitzung (Elektronische Struktur, Grenzfl
äche fest-flüssig, Halbleiteroberfl
ächen und -grenzfl
ächen, Nanostrukturen, Oberfl
ächenreaktionen, Teilchen und Cluster, Struktur und Dynamik reiner Oberfl
ächen)

O 36.51: Poster

Montag, 7. März 2005, 15:00–18:00, Poster TU F

Kontaktieren von Nanoröhrchen mit einer Testelektrode unter dem LEEPS-Projektionsmikroskop — •Dirk Henning Weber, André Beyer, Andreas Eisele, Susanne Schüler, Berthold Völkel und Armin Gölzhäuser — Physik supramolekularer Systeme, Universität Bielefeld

Wir stellen ein Verfahren vor, mit dem das LEEPS-Mikroskop (LEEPS = Low Energy Electron Point Source) zur Charakterisierung der strukturellen, elektrischen und mechanischen Eigenschaften von Nanoobjekten eingesetzt werden kann. Als Testobjekte verwenden wir Kohlenstoff Nanoröhrchen. Das LEEPS-Mikroskop besteht im Wesentlichen aus einer feldemittierenden Spitze als Quelle für kohärente Elektronen, einem Probenhalter und einem Detektorschirm. Die am Objekt gestreuten Elektronen erzeugen auf dem Schirm eine Projektion des Objekts. Ein Vergleich zwischen LEEPS-Aufnahmen und REM-Bildern wird präsentiert. Durch gezielte Annäherung der Punktquelle an ein Objekt kann dieses kontaktiert werden. Da man während der Annäherung die lokale Morphologie der Nanoröhrchen beobachten kann, bildet dieses Verfahren die Grundlage für die Untersuchung des Einflusses der Morphologie auf die Leitfähigkeit. Das Konzept einer zusätzlichen Spitze, die anstelle der Punktquelle als bewegliche Elektrode für diese Messungen dient, wird diskutiert.