Berlin 2005 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 48: Oxide und Isolatoren II

O 48.5: Vortrag

Dienstag, 8. März 2005, 16:45–17:00, TU EB107

Tieftemperatur-STM-Untersuchungen der Morphologie und Defektstruktur von dünnen MgO-Filmen — •Martin Sterrer, Markus Heyde, Niklas Nilius, Hans-Peter Rust und Hans-Joachim Freund — Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft, Abteilung Chemische Physik, Faradayweg 4-6, 14195 Berlin

Die genaue Kenntnis der Struktur und elektronischen Eigenschaften von Defekten ist unumgänglich für die Aufklärung des Zusammenhangs zwischen Struktur und Reaktivität von Oberflächenzentren. Mittels Raster-Tunnel-Mikroskopie bei 4K wurde die Morphologie eines 4 Monolagen dünnen MgO-Films auf Ag(100) untersucht. Mindestens 4 atomare Lagen des Films sind exponiert, wobei die Terrassen nahezu perfekt georndet sind, Stufen jedoch eine hohe Anzahl von Defekten wie Kinken und Ecken aufweisen. Es wird gezeigt, dass mittels Landungsinjektion von der STM-Spitze elektronische Defekte auf der Oberfläche erzeugt werden können, deren Energieniveaus innerhalb der Bandlücke von MgO liegen. Durch geeignete Wahl der Polarität der Probenspannung ist es möglich, den Ladungszustand der Defekte gezielt zu verändern. Der Vergleich mit theoretischen Berechnungen legt den Schluss nahe, dass es sich bei den Defekten um Farbzentren handelt.