Berlin 2005 – wissenschaftliches Programm
Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe
T: Teilchenphysik
T 203: Halbleiterdetektoren I
T 203.9: Vortrag
Freitag, 4. März 2005, 16:05–16:20, TU H112
3-dimensionale Lagekontrolle mit IR-Laser Strahlen für Si-Sensoren in einem Teilchenspurdetektor auf der Internationalen Raumstation. — •Wolfgang Wallraff1 und Daniel Haas2 — 11. Physikalisches Institut Ib, RWTH-Aachen — 2DPNC, université de Genève
Mit dem 8-Ebenen Si-tracker des AMS-02 Experimentes (s. NIM-A 2004 im Druck) können geladene Spuren aus der Höhenstrahlung mit hoher Genauigkeit (single hit : σy 8.5µm, σx 30µm) gemessen werden. Um die volle Auflösung ausnutzen zu können, muss sichergestellt werden, dass unbeobachtete Änderungen der relativen Lage der Sensoren des Tracker klein gegenüber der angestrebten Ortsgenauigkeit bleiben (trotz in weitem Rahmen sich ändernder Umweltbedingungen, z. B. -10∘C ≤ Top ≤ 25∘C). Der AMS Tracker ist mit einem auf IR(1082nm) Strahlen basierendem Lagekontrollsystem ausgerüstet, das auch schon beim AMS-01 Experiment erfolgreich zum Einsatz kam (J. Vandenhirtz et al. ICRC2001 Hamburg, OG5, 2197). Die verbesserte Geometrie sowie die höhere Transparenz (50%/Lage) erlauben eine detaillierte Vermessung der Strahlprofile. Aus den Schwerpunkten der Profile werden die Ablagen in der Ebene der Sensoren (Genauigkeit < 5µm, < 100 Laserhits, ca. 100ms) bestimmt. Die Auslesestrukturen der Si-Sensoren führen aufgrund von Beugung zu klar indentifizierbaren Intensitätsmodulationen vor allen Dingen auf den Flanken der Profile. Die Vermessung dieser Modulationen erlaubt den Nachweis von Lageänderungen entlang der Trackerachse mit einer Genauigkeit von 100µm, wie mit einem Testaufbau (Université de Genève) gezeigt wird. [gefördert durch DLR Köln-Porz]