Berlin 2005 – wissenschaftliches Programm

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T: Teilchenphysik

T 603: Halbleiterdetektoren III

T 603.4: Vortrag

Dienstag, 8. März 2005, 17:15–17:30, TU H112

Elektrische Charakterisierung von Silizium-Pixelmodulen für den ATLAS-Detektor — •T. Stahl — ATLAS-Gruppe Siegen, Universität Siegen, Fachbereich Physik, 57068 Siegen

Der ATLAS-Pixeldetektor besteht als innerster Teil des ATLAS-Detektors aus insgesamt 1744 einzelnen Silizium-Detektormodulen mit einer Grösse von jeweils ca. 2 cm ·  6  cm, die auf spezielle Kohlefaserstrukturen aufgebracht werden. Auf jedem Modul befinden sich 46080 einzelne Auslesekanäle, die von insgesamt 16 Frontend-Elektronikchips ausgelesen werden. Jeder dieser ca. 80 Millionen Auslesekanäle enthält einen eigenen Vorverstärker und Diskriminator. Da sich der Pixeldetektor im Innersten des Detektors befindet, ist dieser nach der Installation für die gesamte Betriebszeit des Detektors nur schwer zugänglich. Um einen Ausfall einzelner Module zu verhindern, muß  während der gesamten Produktion ein sehr hoher Qualitätsstandard gewährleistet werden. Jedes einzelne Modul wird in den Instituten, in Deutschland an den Universitäten Bonn, Dortmund, Siegen und Wuppertal, mittels verschiedener Tests umfangreich elektrisch charakterisiert und auf Abweichungen hin untersucht. Der Vortrag gibt einen Überblick über die elektrischen Tests, die im Siegener Labor durchgeführt werden.