Berlin 2005 – wissenschaftliches Programm

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TT: Tiefe Temperaturen

TT 1: Superconductivity - Fabrication, Technical Optimization and Characterization

TT 1.8: Vortrag

Freitag, 4. März 2005, 12:00–12:15, TU H104

In-situ RHEED-Charakterisierung und elektrische Eigenschaften von YBa₂Cu₃O₇-Schichten — •A. Hirsch, M. Karger, F. Ludwig und M. Schilling — Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik, TU-Braunschweig, Hans-Sommer-Str. 66, D-38106 Braunschweig

Zur Herstellung von Bauelementen aus Hochtemperatursupraleitern wie Josephson-Kontakte und supraleitende Quanteninterferometer (SQUIDs) sind dünne Schichten hoher epitaktischer Qualität erforderlich.

Mit den Methoden der statistischen Versuchsplanung wird das Wachstum von YBa₂Cu₃O₇ auf SrTiO₃-Einkristallsubstraten mittels gepulster Laser-Deposition (PLD) in Hinblick auf die strukturellen und elektrischen Eigenschaften untersucht. Insbesondere wird ein Zusammenhang zwischen den aus in-situ RHEED-Untersuchungen gewonnenen epitaktischen Eigenschaften der Schichten und den elektrischen Eigenschaften Übergangstemperatur T_c, kritische Stromdichte j_c bei 77  K und relativen Widerstandsverhältnis R(300  K)/R(100  K) geprüft. Desweiteren wird der Einfluss von kontinuierlicher bzw. Intervall-Deposition auf die Schichtqualität diskutiert. Ein Überblick über die Ergebnisse wird gegeben.