Dortmund 2006 – scientific programme

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T: Teilchenphysik

T 204: Halbleiterdetektoren I

T 204.2: Talk

Tuesday, March 28, 2006, 14:15–14:30, C2-02-176

Modul-Produktion und System-Tests für den ATLAS Pixel Detektor — •Jens Weingarten¹, Tobias Flick², Jörn Grosse-Knetter¹, Peter Mättig², Kendall Reeves², Iris Rottländer¹, Joachim Schultes² und Norbert Wermes¹ — ¹Physikal. Institut, Universität Bonn — ²Physikal. Institut, Universität Wuppertal

Der ATLAS Pixel Detektor ist aufgebaut aus 1744 identischen Modulen in drei Zylinderlagen und je drei Scheibenlagen in Vorwärtsrichtung. Insgesamt hat der Pixel Detektor 80 Mio. Auslesekanäle. Um das Zusammenspiel der vielfältigen verschiedenen Komponenten, die nötig sind, den Detektor mit Spannung zu versorgen, die Temperaturen und Ströme der einzelnen Module sowie der Umweltbedingungen zu überwachen, zu studieren, werden Systemtests vorgenommen. Dazu wird aus den originalen Komponenten und Kabeln ein Testsystem aufgebaut, an dem das Verhalten der Module in einer dem finalen Detektor ähnlichen Umgebung getestet werden kann. Um Einflüsse des Systems auf das Verhalten der Module zu finden, werden die Daten dieser Tests mit den Daten verglichen, die man aus den Qualifikationstests jedes Moduls hat. Nach einem Überblick über den Stand der Produktion der Detektormodule wird das Testsystem kurz beschrieben und aktuelle Ergebnisse der Systemtests werden vorgestellt.