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T: Teilchenphysik

T 304: Detektoren

T 304.6: Vortrag

Dienstag, 28. März 2006, 17:55–18:10, C2-02-176

Serientest des OTIS TDC-Chips für den LHCb Outer Tracker — •Jan Knopf — Physikalisches Institut der Universität Heidelberg

Das äussere Spurkammersystem des LHCb-Detektors setzt sich aus 55 000 Proportionalröhrchen zusammen. Der gasverstärkte Ladungspuls der Driftelektronen wird mittels eines schnellen Vorverstärkers diskriminiert. Ein speziell entwickelter TDC-Chip vermisst die Ankunftszeit dieses Signals mit einer Auflösung von unter 1 ns. Da diese Chips direkt auf ihre Karten gebondet werden, müssen sie vorher einzeln auf ihre Funktions- und Leistungsfähigkeit geprüft werden.

Um die Chips einerseits innerhalb einer kurzen Zeitspanne testen zu können, andererseits aber eine vollständige Charakterisierung zu erlangen, wurde ein Grossteil der Testroutinen auf einem FPGA realisiert. Dieses Vorgehen ermöglichte Ausleseraten bis zu 1 MHz und somit eine Umgebung, wie sie auch im endgültigem Detektor vorzufinden ist.

Der Vortrag beschreibt den Aufbau dieses Tests und stellt die erhaltenen Resultate vor.