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T: Teilchenphysik

T 604: Halbleiterdetektoren III

T 604.4: Vortrag

Freitag, 31. März 2006, 12:00–12:15, C2-02-176

Diamantdetektoren als Strahlmonitor — •Johannes Bol¹, Steffen Müller¹, Eleni Berdermann², Wim de Boer¹ und Florian Hauler¹ — ¹Insitut für exp. Kernphysik, Universität Karlsruhe — ²Detektorlabor, Geselschaft für Schwerionenforschung (GSI)

Die Bestimmung von Strahleigenschaften wie Position und Durchmesser, ist die Grundvorraussetzung um einen Teilchenstrahl beispielsweise auf die gewünschte Trajektorie zu führen. Auch zur Regulierung anderer Paramter, von denen es vor allem bei gepulsten Strahlen einige gibt, muss deren momentaner Wert gemessen werden. Für viele dieser Messungen gibt es spezielle Messsysteme, die jeweils für ihre spezifische Aufgabe konzipiert wurden. So kann man z. B. mit einer Rogowski-Spule die Strahlintensität und Struktur eines gepulsten Strahles, nicht aber die Intensität eines Strahles mit konstantem Strom messen. Ein ähnliches Problem gibt es bei Drahtscannern, die zur Strahlprofilmessung mit einem zweiten System gekoppelt werden müssen, um eindeutige Ergebnisse zu liefern. Mit Diamantdetektoren ist es dagegen in gewissen Grenzen möglich mehrere Strahleigenschaften, wie Profil, Intensität und zeitliche Struktur gleichzeitig zu messen, indem man den Detektor während der Messung direkt in den primären Strahl des Beschleunigers bringt. Im Vortrag sollen die herausragenden Eigenschaften von Diamant vorgestellt werden, welche Vorraussetzung für eine solche Anwendung sind. Desweiteren sollen Messungen mit Prototypen gezeigt werden als auch die Grenzen des Systems diskutiert werden.