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T: Teilchenphysik

T 705: Tracking II

T 705.3: Vortrag

Freitag, 31. März 2006, 15:05–15:20, C2-02-176

Messung der Driftgeschwindigkeit in bestrahlten Silizium-Sensoren — •Andreas Sabellek, Wim de Boer, Johannes Bol, Alexander Furgeri und Michael Krause — Institut für Experimentelle Kernphysik, Universität Karlsruhe (TH)

Die Transient Current Technique (TCT) ermöglicht es, das Driftverhalten von Ladungsträgern durch das Sensormaterial Silizium zwischen 77 und 300K zu untersuchen. Mit den durchgeführten Driftzeitmessungen können wir die Mobilität von Ladungsträgern in Abhängigkeit der Strahlenbelastung eines Sensors für einen großen Temperaturbereich angeben.

Die hohen Mobilitäten bei tiefen Temperaturen haben großen Einfluss auf die Ablenkung von driftenden Ladungsträgern in Sensoren bei starken Magnetfeldern. Gemeinsam mit Untersuchungen des Hallstreufaktors führen die Messungen zu einer genauen Kenntnis des sogenannten Lorentzwinkels im Magnetfeld als Funktion der Strahlungsfluenz.