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A: Atomphysik
A 21: Poster II: Multikoinzidenz Imaging
A 21.1: Poster
Donnerstag, 16. März 2006, 16:30–18:30, Labsaal
Orts- und zeitauflösende planare Germaniumdetektoren zur Spektroskopie und Polarimetrie hochenergetischer Röntgenstrahlung — •Uwe Spillmann1,2, H. Beyer1, S. Chatterjee1, A. Gumberidze1,2,3, S. Hess1,2, Ch. Kozhuharov1, Th. Krings4, D. Protic4, R. Reuschl1,2, Th. Stöhlker1,2, S. Tashenov1 und S. Trotsenko1,2 — 1GSI, Darmstadt, Germany — 2IKF, J.W. v. Goethe Universität, Frankfurt am Main, Germany — 3Tbilisi State University, Georgia — 4IKP, FZ Jülich, Jülich, Germany
Strukturierte Halbleiterdetektoren öffnen die Tür zu neuartigen Messmethoden in der Röntgen-Spektroskopie. Unter Ausnutzung des Compton-Effekts ermöglichen diese Systeme Aussagen über den Polarisationsgrad sowie die Lage des Polarisationsvektors der Röntgenstrahlung. Eine weitere wichtige Anwendung ist die hochpräzise Vermessung von atomaren Übergangsenergien in Kristallspektrometerexperimenten. Hier wird neben der hervorragenden Energieauflösung eine deutlich gesteigerter Effizienz im Vergleich zu klassischen Schlitzsystemen erreicht. Zentraler Gegenstand der aktuellen Arbeit ist die Analyse der geometrischen und elektronischen Responsefunktion eines beidseitig strukturierten 128x48- Streifendetektors aus hochreinen Germanium. Die im Rahmen einer Strahlzeit an der ESRF (Grenoble, France) gewonnen Ergebnisse werden bezüglich geometrischer Positionsempfindlichkeit und Polarisationsempfindlichkeit diskutiert.