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MS: Massenspektrometrie

MS 3: Laser-Massenspektrometrie

MS 3.1: Vortrag

Dienstag, 14. März 2006, 14:00–14:15, H1

Adaption einer kommerziellen TOF-SIMS Anlage zur resonanten Laser-Nachionisation gesputterter Neutralteilchen — •Florian Martin Engelberger, Nicole Erdmann, Jens Volker Kratz, Norbert Trautmann und Thomas Joachim Wunderlich — Fritz-Straßmannweg 2, D 55099 Mainz

Zur Identifizierung langlebiger radioaktiver Isotope in Umweltproben benötigt man sehr empfindliche Nachweisverfahren. Dies trifft besonders auf die Partikelanalyse zu. Ein für die Spurenanalytik von Aktiniden hochempfindliches Verfahren ist die Resonanzionisations-Massenspektrometrie (RIMS), die in den Instituten für Kernchemie und Physik der Universität Mainz bisher hauptsächlich zur Bulk-Analyse eingesetzt wurde. Zur Identifizierung von Partikeln, ist die Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) gut geeignet. Ein Problem hierbei stellen jedoch isobare Interferenzen dar, wie zum Beispiel 238Pu / 238U oder 241Pu / 241Am. Zur Lösung dieses Problems wird ein Gerät zur Kopplung von Ionenstrahl-Sputtern mit resonanter Nachionisation der erzeugten Neutralteilchen aufgebaut. Damit soll eine elementselektive Partikelanalyse ohne Isobareninterferenzen ermöglicht werden. Der Apparatur besteht aus einem kommerziellen TOF-SIMS Gerät mit einer Gallium-Flüssigmetall-Ionenquelle , die gepulst im kHz-Bereich arbeitet und so eine optimale Kopplung mit einem hochrepetierenden Ti:Sa-Lasersystem ermöglicht. Die Apparatur wird vorgestellt und erste Ergebnisse zur nichtresonanten Ionisation (532 nm) an U3O8-Partikeln werden präsentiert.