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Q: Fachverband Quantenoptik und Photonik

Q 43: Optische Messtechnik

Q 43.8: Vortrag

Mittwoch, 21. März 2007, 15:45–16:00, 5E

Aufbau eines optischen Rasternahfeldmikroskops (SNOM) zur Untersuchung evaneszenter Felder — •Frank Fecher, Julia Hahn, Jürgen Petter und Theo Tschudi — TU Darmstadt, Institut für Angewandte Physik, Hochschulstr. 6, 64289 Darmstadt

Optische Rasternahfeldmikroskope (SNOM) sind eine etablierte Methode, um berührungslose Untersuchungen von Proben unterhalb der Abbeschen Auflösungsgrenze durchzuführen. Insbesondere können mit dem System nahfeldoptische Eigenschaften der Proben untersucht werden, wie deren evaneszente Felder, die nur wenige 10 nm Ausdehnung haben.

Das SNOM wird in ein bereits vorhandenes, im Institut entwickeltes Rasterkraftmikroskop (AFM) implementiert, über das auch die Ansteuerung der drei Raumrichtungen erfolgt. Durch Auswerten des Resonanzverhaltens eines kommerziellen Uhrenquarzes kann eine präzise Detektion des Abstands zur Probe vorgenommen werden. Das optische Signal wird durch eine Glasfaser aufgenommen, deren Spitze einen Aperturdurchmesser unterhalb der zu messenden Lichtwellenlänge hat, und zu einem Photomultiplier geleitet.

Im Rahmen eines Projekts zur Grenzflächenuntersuchung von Zellmembranen wird das SNOM dazu dienen, die evaneszenten Felder von Wellenleiterstrukturen zu charakterisieren, um Angaben über deren Güte und Eigenschaften machen zu können.