Heidelberg 2007 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 214: Halbleiterdetektoren I

T 214.2: Vortrag

Dienstag, 6. März 2007, 17:05–17:20, INF 327 SR 6

System Tests fuer den ATLAS Pixel Detektor — •Jens Weingarten — Physikal. Institut der Universitaet Bonn

Der ATLAS Pixel Detektor ist die zentrale Komponente des inneren Detektors. Mit einem minimalen Abstand zum Interaktionspunkt von 5 cm und einer Ortsaufloesung von etwa 14um x 115um liefern sein drei Spurpunkte einen betraechtlichen Beitrag zur Identifikation von sekundaeren Vertices und ermoeglicht so erst fortschrittliche Identifikationsmethoden wie b-tagging.

Der Pixel Detektor besteht aus 1744 Detektormodulen, von denen jedes mit zwei Niederspannungen und einer Depletionsspannung fuer den Sensor versorgt wird. Um eine hohe Uebertragungsrate und Rauscharmut zu gewaehrleisten geschieht die Datenauselese ueber ein optisches System.

Um die Sicherheit des Detektors und der beteiligten Personen zu gewaehrleisten, wurde ein umfassendes Interlock-System implementiert, welches neben den Temperaturen der Module auch die Temperaturen verschiedener anderer Komponenten, den Status den Kuehlsystems und die Laser-Sicherheit der optischen Auslese-Kette ueberwacht.

Um die Operation dieser vielen verschiedenen Komponenten zu studieren und Probleme durch die Komplexitaet des Systems fruehzeitig erkennen und beheben zu koennen, wurde am CERN ein signifikanter Teil des Detektorsystems einem System Test unterzogen. Im Vortrag wird dieser Aufbau beschrieben und einige der Resultate der Tests werden vorgestellt.