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T: Fachverband Teilchenphysik

T 315: Halbleiterdetektoren II

T 315.5: Vortrag

Mittwoch, 7. März 2007, 17:45–18:00, INF 306 SR 14

Primärstrahlmonitor aus Diamant für Schwerionenstrahlen hoher Intensität — •Johannes Bol¹, Eleni Berdermann², Wim de Boer¹, Alexander Furgeri¹, Steffen Müller¹, Michal Pomorski² und Christian Sander¹ — ¹Instiut für experimentelle Kernphysik, Unversität Karlsruhe — ²Detektorlabor, Gesellschaft für Schwerionenforschung (GSI), Darmstadt

Strahlmonitore sind wichtige Diagnosegeräte in jedem Teilchenbeschleuniger. Sie messen Position, Form und Intensität des Teilchenstrahls. Bisher werden Wirescanner dafür eingesetzt. Sie detektieren die an einem dünnen Draht gestreuten Teilchen, womit die Strahlparameter ermittelt werden können. Die Informationen sind jedoch über viele einzelne Strahlpakete gemittelt, somit können keine Informationen über einzelne Strahlpakete gemessen werden. Der in diesem Vortrag vorgestellte Strahlmonitor besteht aus 80 µm dickem polykristallinem Diamant und wurde mit Streifen aus Aluminium metallisiert. 12 Streifen werden mit einer Samplingzeit von 1 ns ausgelsen, womit die Auflösung einzelner Pakete und deren Substruktur ermöglicht wird. Es werden die Ergebnisse einer Messkampagne am SIS18 der GSI in Darmstadt vorgestellt. Die Messungen wurden mit einem Strahl von ²⁰⁷Pb⁶⁷⁺ mit bis zu 2,5 · 10⁹ Ionen pro Paket und Energien von 400 MeV pro Nukleon durchgeführt. Es wird eine Auslesemethode vorgestellt, die die Sättigung in der Auslesekette auf Grund der starken Signale reduziert, so dass auch hochintensive Strahlpakete aufgelöst werden können.