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MM: Fachverband Metall- und Materialphysik

MM 21: HV Nierlich

Mittwoch, 28. März 2007, 14:00–14:30, H16

	14:00	MM 21.1	Hauptvortrag: XRD residual stress analysis: one of the few advanced physical measuring techniques that have established themselves for routine application in industry — •Wolfgang Nierlich and Jürgen Gegner