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O: Fachverband Oberflächenphysik
O 42: Methods: Scanning Probe Techniques III
Mittwoch, 28. März 2007, 15:45–16:30, H41
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15:45 | O 42.1 | Infrared Nanofocus Maps Sub-10 nm Particles — •Antonija Cvitkovic, Nenad Ocelic, Javier Aizpurua, Reinhard Guckenberger, and Rainer Hillenbrand |
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16:00 | O 42.2 | Plasmons in metallic bilayer wave guides — •Andreas Englisch, Stefan Griesing, and Uwe Hartmann |
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16:15 | O 42.3 | Elektrische Charakterisierung von Halbleiterstrukturen mittels Electrostatic Force Microscopy — •Markus Ratzke, Mario Birkholz, Joachim Bauer, Detlef Bolze und Jürgen Reif |