Berlin 2008 – wissenschaftliches Programm

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O: Fachverband Oberflächenphysik

O 43: Poster Session II - MA 141/144 (Surface Spectroscopy on Kondo Systems; Frontiers of Surface Sensitive Electron Microscopy; Methods: Scanning Probe Techniques+Electronic Structure Theory+Other; Time-Resolved Spectroscopy of Surface Dynamics with EUV and XUV Radiation; joined by SYNF posters)

O 43.37: Poster

Dienstag, 26. Februar 2008, 18:30–19:30, Poster F

Multilayer-Optiken für die fs-Röntgendiffraktometrie — •Jörg Wiesmann und Carsten Michaelsen — Incoatec GmbH, Geesthacht, Germany

An mehreren Orten auf der Welt befinden sich gepulste Synchrotron-Röntgenquellen im Bau, so genannte Freie Elektronen Laser. In Vorbereitung hierauf beschäftigt sich eine zunehmende Zahl von Forschergruppen mit vorbereitenden Laborexperimenten, wobei lasergenerierte Plasmaquellen zur Erzeugung von gepulster Röntgenstrahlung im sub-Pikosekunden Bereich verwendent werden. Derartige Laborquellen erfordern die Entwicklung von Röntgenoptiken, die auf der einen Seite ein großes Lichtsammelvermögen besitzen, und die auf der anderen Seite die Brillanz und die Zeitstruktur der Röntgenstrahlung aufrechterhalten. In diesem Beitrag werden verschiedene Röntgenoptiken im Hinblick auf diese Erfordernisse anhand jüngster experimenteller Ergebnisse vorgestellt.