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A: Fachverband Atomphysik
A 29: Electron scattering and recombination
A 29.2: Talk
Friday, March 14, 2008, 11:30–11:45, 3D
Hochaufgelöste Elektronenspektroskopie an ionischen Targets — •Kristof Holste1, Alfred Müller1, Stefan Schippers1 und Sandor Ricz2 — 1Institut für Atom- und Molekülphysik, Justus-Liebig-Universität Gießen — 2Institute of Nuclear Research of the Hungarian Academy of Sciences, Debrecen, Hungary
Die Untersuchung von Elektron-Ion-Stößen ist auf Grund der um Größenordnungen kleineren Teilchendichten von ionischen Targets verglichen mit Gas- oder Festkörpertargets eine experimentelle Herausforderung. Totale Elektron-Ion-Wechselwirkungsquerschnitte werden heutzutage routinemäßig mit crossed- oder merged-beams-Anlagen gemessen. Dabei werden üblicherweise nur die umgeladenen Ionen als Reaktionsprodukte detektiert, nicht jedoch die emittierten Elektronen, die prinzipiell weitergehende Informationen über den Wechselwirkungsprozess liefern. Hier stellen wir eine crossed-beams-Anlage vor, in die ein zweistufiges Elektronenspektrometer integriert wurde. Das Spektrometer besteht aus einem sphärischen (1. Stufe) und einem zylindrischen (2. Stufe) Spiegelfeldanalysator mit azimutaler Symmetrie. In der ersten Stufe werden alle Elektronen, die vom Kreuzungspunkt des Ionen- und des Elektronenstrahls in die azimutale Streuebene emittiert werden, aufgesammelt und in die zweite Stufe transportiert. Dort wird sowohl die Energie als auch die Winkelverteilung der emittierten Elektronen mit einem positionsempfindlichen Mikrochannelplate-Detektor bestimmt. Erste Ergebnisse für die elastische Streuung an Cs+-Ionen liegen vor.