Darmstadt 2008 – wissenschaftliches Programm

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MS: Fachverband Massenspektrometrie

MS 1: Laser-Massenspektrometrie und Laser-Ionenquellen

MS 1.6: Vortrag

Montag, 10. März 2008, 15:30–15:45, 3E

Resonanzionisations-Massenspektrometrie an ionengesputterten Neutralteilchen zur elementselektiven Analyse von Aktiniden in Mikropartikeln — •Nicole Erdmann^1,2, Jens-Volker Kratz², Klaus Lützenkirchen¹, Gerd Passler³ und Norbert Trautmann² — ¹Europäische Kommission, Institut für Transurane, D-76125 Karlsruhe — ²Institut für Kernchemie, Universität Mainz, D-55099 Mainz — ³Institut für Physik Mainz, Universität Mainz, D-55099 Mainz

Die Resonanzionisations-Massenspektrometrie (RIMS) verbindet hohe Elementselektivität mit guter Nachweisempfindlichkeit und eindeutiger Isotopenzuordnung und wird erfolgreich zur Ultraspurenanalyse von Aktiniden in Bulk-Umweltproben eingesetzt. Für die Analyse von Mikro-Partikeln hat sich die Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) zur Routine-Methode entwickelt, wobei jedoch isobare Interferenzen ein Problem darstellen. Um dieses zu lösen, wurde ein kommerzielles TOF-SIMS Gerät so umgebaut, dass es die Kopplung der hochrepetierend (einige kHz) arbeitenden Gallium-Flüssigmetall-Ionenquelle, welche eine Lateralauflösung im sub-Mikrometer-Bereich ermöglicht, mit einem ebenfalls hochrepetierenden Nd-YAG gepumpten Ti:Saphir-Lasersystem zur resonanten Ionisation der gesputterten Neutralteilchen erlaubt. Ziel ist die selektive Bestimmung der Plutonium-Isotopenzusammensetzung in aktinidenhaltigen Partikeln aus Umweltproben. Erste Ergebnisse zur resonanten Nachionisation von Gadolinium, welches als Testelement für dreiwertige Aktiniden eingesetzt wurde, und Plutonium werden vorgestellt.