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Freiburg 2008 – scientific programme

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 54: Halbleiterdetektoren I

Monday, March 3, 2008, 16:45–19:00, KGI-HS 1228

16:45 T 54.1 Resultate eines Beamtests mit großflächigen „magnetic Czochralski (Mcz)“ SiliziumstreifensensorenTobias Barvich, Martin Frey, Alexander Furgeri, Frank Hartmann, Bernhard Ledermann, •Thiansin Liamsuwan, Thomas Müller, Hans-Jürgen Simonis und Pia Steck
17:00 T 54.2 Messungen an standardisierten Silizium-TestsensorenTobias Barvich, Martin Frey, Alexander Furgeri, Frank Hartmann, •Karl-Heinz Hoffmann, Bernhard Ledermann, Thomas Müller, Hans-Jürgen Simonis und Pia Steck
17:15 T 54.3 Untersuchungen zur Oberflächenschädigung von Si-Sensoren durch Röntgenstrahlung — •Friederike Januschek, Hanno Perrey, Robert Klanner, Eckhart Fretwurst und Jolanta Sztuk-Dambietz
17:30 T 54.4 Radiation Damage on MOS devices — •Qingyu Wei
17:45 T 54.5 Untersuchungen zur Defektentwicklung in Siliziumdioden nach Bestrahlung mit Neutronen — •Alexandra Junkes, Ioana Pintilie, Eckhart Fretwurst und Gunnar Lindström
18:00 T 54.6 Untersuchung der Strahlenschädigung von Protonen-bestrahlten epitaktischen Siliziumdetektoren — •Jörn Lange
18:15 T 54.7 Untersuchungen zur Ladungssammlung in Siliziumdetektoren nach Neutronenbestrahlung — •Marie Kristin Bock
18:30 T 54.8 Ein Mehrkanal-TCT Aufbau mit positions- und winkelabhängiger Ladungsinjektion hoher Intensität — •Julian Becker, Doris Eckstein, Georg Steinbrück und Robert Klanner
18:45 T 54.9 Aufbau eines Messstandes zur Untersuchung von Strahlenschäden durch Röntgenstrahlung für XFEL Pixeldetektoren — •Hanno Perrey, Friederike Januschek, Robert Klanner, Eckhart Fretwurst und Fabian Renn
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