Freiburg 2008 – scientific programme
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T: Fachverband Teilchenphysik
T 55: Halbleiterdetektoren II
T 55.8: Talk
Tuesday, March 4, 2008, 18:35–18:50, KGI-HS 1228
CIX 0.2 - Systemtests und Röntgenmessungen an einem simultan zählenden und integrierenden Pixeldetektor — •Johannes Fink1, Edgar Kraft1, Manuel Koch1, Hans Krüger1, Norbert Wermes1, Peter Fischer2, Ivan Peric2 und Christoph Herrmann3 — 1Universität Bonn — 2Universität Mannheim — 3Philips Forschungslaboratorien Aachen
CIX 0.2 ist die zweite Generation eines Röntgendetektors für die medizinische Bildgebung, der aufbauend auf den Erkenntnissen aus der Entwicklung von Pixeldetektoren für die Hochenergiephysik entworfen wurde.
Wie auch bei seinem Vorgänger CIX 0.1 basiert das Konzept dieses Chips auf dem gleichzeitigen Betrieb eines Zählers und eines Integrators in jedem einzelnen Pixel. Dieser parallele Betrieb beider Signalverarbeitungskonzepte vergrößert den dynamischen Bereich des Detektors und erlaubt es gleichzeitig Informationen über das absorbierte Röntgenspektrum zu gewinnen. CIX 0.2 ist die erste Chipversion welche mit verschiedenen direkt konvertierenden Sensormaterialien verbunden wurde. Dieser Vortrag bespricht die Eigenschaften des Systems an Hand von Röntgenaufnahmen mit CdTe- und CdZnTe-Sensoren. Darüber hinaus werden die Ergebnisse der elektrischen Charakterisierung in Bezug auf das Rauschen und den dynamischen Bereich des Systems vorgestellt.