Freiburg 2008 – scientific programme

Parts | Days | Selection | Search | Downloads | Help

T: Fachverband Teilchenphysik

T 69: Beschleunigerphysik I

T 69.6: Talk

Wednesday, March 5, 2008, 18:00–18:15, KGI-HS 1019

XFEL-Photoinjektor-Entwicklung bei PITZ — •Mikhail Krasilnikov — DESY, Zeuthen, Germany

Freie-Elektronen-Laser (FEL) und insbesondere der europäische Röntgenlaser (XFEL) benötigen eine Elektronenquelle höchster Qualität. Dazu müssen Elektronenpakete hoher Intensität und sehr kleiner Emittanz (transversale normierte Emittanz vom 0.9 mm mrad für 1 nC Bunchladung) zur Verfügung stehen. Der Photoinjektor-Teststand Zeuthen (PITZ) dient der Entwicklung und Optimierung von Elektronenquellen für FELs. Die wesentlichen Schritte zur Erfüllung der XFEL Photoinjektor Spezifikationen sind Erhöhung des Gradienten in der Gun-Kavität und Erzeugung eines zeitlichen 'flat-top' Kathodenlaserprofils für die Reduzierung des Raumladungeffekts. In 2007 wurde eine PITZ Gun-Kavität mit erhöhtem Gradienten (ca. 60 MV/m an der Kathode) charakterisiert und die Emmitanzreduzierung demonstriert. Die Hauptergebnisse der Charakterisierung werden zusammen mit den nächsten Schritten auf dem Weg zum XFEL Photoinjektor diskutiert.