Dresden 2009 – wissenschaftliches Programm
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MM: Fachverband Metall- und Materialphysik
MM 29: Diffusion and Point Defects II
MM 29.1: Vortrag
Mittwoch, 25. März 2009, 12:00–12:15, IFW D
Einzelfehlstellennachweis mit dem Mikrostrahl der Bonner Positronen-Mikrosonde — •Sven-Martin Hühne1,2, Patrick Eich2, Matz Haaks2 und Karl Maier2 — 1Institut für Anorganische Chemie, Römerstraße 164, D-53117 Bonn — 2Helmholtz-Institut für Strahlen- und Kernphysik, Nußallee 14-16, D-53115 Bonn
Die Positronen-Annihilations-Spektroskopie (PAS) ist eine renommierte Methode zur Untersuchung von Kristalldefekten. Für PAS-Messungen ist die Bonner Positronen-Mikrosonde (BPM) eine einzigartige Messapparatur zum ortsaufgelösten Nachweis der Fehlstellendichte. Erstmalig ist es gelungen die Ortsauflösung der BPM auf 1 µ m zu optimieren.
Durch Anlassen sind in abgeschrecktem Platin kleine Leerstellencluster erzeugt und anschließend mit Positronenstrahldurchmessern von 50 µ m und 1 µ m untersucht worden.
Mit einem Strahldurchmesser von 50 µ m beobachtet man unabhängig von der Position auf der Probe einen konstanten Linienformparameter, d.h. eine räumlich konstante Fehlstellendichte im Messvolumen. Wird der Strahl hingegen auf 1 µ m fokussiert, beobachtet man die statistische Verteilung der wenigen von den Positronen erreichbaren Fehler im Messvolumen. Damit lässt sich zeigen, dass mit Positronen als Sondenteilchen eine einzelne Fehlstelle beobachtbar ist.