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A: Fachverband Atomphysik

A 33: Interaction with VUV and X-Ray Light II

A 33.1: Fachvortrag

Donnerstag, 5. März 2009, 16:30–17:00, VMP 8 R208

Lichtfeldgetriebene Röntgen-Streak-Kamera zur Messung der Zeitstruktur einzelner XUV-Pulse am FLASH — •Ulrike Frühling¹, Marek Wieland², Michael Gensch¹, Thomas Gebert², Bernd Schütte², Maria Krikunova², Roland Kalms², Filip Budzyn², Oliver Grimm^2,3, Jörg Rossbach², Elke Plönjes¹ und Markus Drescher² — ¹Desy, Hamburg — ²Uni HH, Hamburg — ³ETH Zürich, Institut für Teilchenphysik

Der Freie-Elektronen-Laser in Hamburg (FLASH) erzeugt durch selbstverstärkte spontane Emission (SASE) hochintensive kurze XUV-Pulse. Dieses Prinzip führt zu merklichen Schuss-zu-Schuss Fluktuationen von Pulsenergie, Wellenlänge und Zeitstruktur. Ziel unseres Experimentes ist daher eine Einzelschussmessung des XUV Zeitprofils. Dazu werden die XUV-Pulse (λ= 13 nm) mit in einem speziellen THz-Undulator erzeugten THz-Pulsen (λ= 100 µm) überlagert. Die verwendete Technik überträgt ein in der Attosekunden-Metrologie verwendetes Konzept auf Zeitmessungen im Femtosekundenbereich. Anders als bei einer konventionellen Streak-Kamera wird die Festkörper-Photokathode durch freie Edelgasatome gebildet, die durch die XUV-Pulse ionisiert werden. Die entstehenden Photoelektronen werden durch das zeitabhängige elektrische Feld der THz-Pulse beschleunigt, wobei die Energieänderung vom elektrischen Feld zum Ionisationszeitpunkt abhängt. Durch Messung der Photoelektronenenergien konnte das THz-Lichtfeld abgetastet werden und es wurden erste Einzelschuss-Spektren gemessen, die Informationen über die Zeitstruktur der einzelnen XUV-Pulse liefern.