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16:45 |
T 57.1 |
Untersuchung von hochbestrahlten Magnetic-Czochralski-Streifensensoren für den Einsatz am SLHC — Tobias Barvich, Alexander Dierlamm, Martin Frey, Frank Hartmann, Thomas Müller, •Maike Neuland, Hans-Jürgen Simonis und Pia Steck
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17:00 |
T 57.2 |
Untersuchungen zum Lorentzwinkel in hochbestrahlten Siliziumstreifensensoren — Tobias Barvich, Wim de Boer, Alexander Dierlamm, •Michael Schneider, Hans-Jürgen Simonis und Pia Steck
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17:15 |
T 57.3 |
Vergleich von Simulation mit Teststrahlmessungen an bestrahlten und unbestrahlten Modulen des CMS Silizium-Spurdetektors — •Jörn Schwandt, Doris Eckstein, Robert Klanner und Georg Steinbrück
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17:30 |
T 57.4 |
Untersuchungen zur Oberflächenschädigung von Si-Sensoren durch Röntgenstrahlung — Eckhart Fretwurst, Friederike Januschek, Robert Klanner, Hanno Perrey, Joana Pintilie, Fabian Renn und •Thorben Theedt
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17:45 |
T 57.5 |
Irradiation Studies of GaAs Sensors in a High Intensity Electron Beam — •Alexander Ignatenko, Konstantin Afanaciev, Elena Castro, Wolfgang Lange, Wolfgang Lohmann, Martin Ohlerich, Ringo Schmidt, and Sergej Schuwalow
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18:00 |
T 57.6 |
Temperature and Frequency Dependence of Electrical Parameters of Irradiated Silicon Diodes — •Volodymyr Khomenkov, Doris Eckstein, and Eckhart Fretwurst
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18:15 |
T 57.7 |
Messung der integrierten Strahlendosis im ATLAS-Experiment — •Jochen Hartert und Johanna Bronner
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18:30 |
T 57.8 |
Aufbau einer flexiblen Teststation für die Entwicklung und Qualitätssicherung von hochbestrahlten Silizium-Streifen-Sensoren — Bernd Atz, Tobias Barvich, Alexander Dierlamm, •Joachim Erfle, Frank Hartmann, Karl-Heinz Hoffmann, Thomas Müller, Hans-Jürgen Simonis und Pia Steck
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18:45 |
T 57.9 |
Untersuchung von hochbestrahlten MCz-Detektormodulen in einem Teststrahl — •Martin Frey, Tobias Barvich, Alexander Dierlamm, Frank Hartmann, Thomas Müller, Maike Neuland, Hans-Jürgen Simonis und Pia Steck
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