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T: Fachverband Teilchenphysik
T 57: Halbleiterdetektoren 3
T 57.2: Vortrag
Mittwoch, 11. März 2009, 17:00–17:15, A125
Untersuchungen zum Lorentzwinkel in hochbestrahlten Siliziumstreifensensoren — Tobias Barvich, Wim de Boer, Alexander Dierlamm, •Michael Schneider, Hans-Jürgen Simonis und Pia Steck — Institut für Experimentelle Kernphysik - Uni Karlsruhe (TH)
Beim geplanten Upgrade des LHC zum sLHC sowie in anderen zukünftigen Beschleunigerexperimenten werden immer höhere Teilchenflüsse angestrebt. Um zu gewährleisten, daß die verbauten Siliziumsensoren auch bei hohen Strahlendosen noch zuverlässig arbeiten, müssen zuvor Studien durchgeführt werden, um das Verhalten dieser Sensoren bei hohen Fluenzen zu untersuchen.
Eine die Ortsauflösung beeinflussende Größe ist der Lorentzwinkel; dieser ist abhängig von Temperatur, Spannung, Magnetfeld, Material, Dicke und Fluenz. Es wurden Sensoren verschiedener Dotierung bis zu einer Fluenz von 1016 Neutronenäquivalent pro cm2 bestrahlt und anschließend der Lorentzwinkel vermessen. Die gefundenen Ergebnisse werden in diesem Vortrag präsentiert.