München 2009 – scientific programme

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 65: Detektorsysteme 1

T 65.6: Talk

Wednesday, March 11, 2009, 18:00–18:15, N020

Störfestigkeitsmessung und EMV-Analyse einer neuartigen Spannungsversorgung des CMS-Siliziumstreifentrackers. — •Rüdiger Jussen, Lutz Feld, Waclaw Karpinski, Katja Klein, Jennifer Merz und Jan Sammet — 1. Physikalisches Institut B, RWTH Aachen

Im Rahmen des geplanten Luminositätsupgrade des LHC zum SLHC muss der innere Teil des CMS-Experimentes, der Siliziumstreifen- und Pixeldetektor, ausgetauscht werden. Aufgrund der höheren Spurdichten werden Detektoren mit mehr Auslesekanälen benötigt.

Die dadurch zusätzlich benötigte Leistung muss durch die vorhandenen Kabel zugeführt werden, was eine Überarbeitung der Stromversorgung notwendig macht. Einen Lösungsansatz hierzu stellt die lokale Spannungskonvertierung mit DC-DC-Konvertern dar.

Um das Rauschverhalten dieser zusätzlichen Schaltelektronik im Detektorsystem zu untersuchen, wurde ein EMV-Messstand aufgebaut und in Betrieb genommen, sowie Störfestigkeitsmessungen an Detektorkomponenten durchgeführt. Dieser Vortrag beschreibt den Messaufbau sowie die Ergebnisse der Analyse.