Bonn 2010 – wissenschaftliches Programm

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HK: Fachverband Physik der Hadronen und Kerne

HK 53: Instrumentierung X

HK 53.4: Vortrag

Donnerstag, 18. März 2010, 17:30–17:45, HG IV

Pulsformanalyse mit Silizium-Mikrostreifendetektoren — •Mirko von Schmid¹, Peter Egelhof², Roman Gernhäuser³, Thorsten Kröll¹, Manfred Mutterer², Norbert Pietralla¹, Branislav Streicher² und Michael Weber³ — ¹Institut für Kernphysik, Technische Universität Darmstadt — ²GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung GmbH — ³Physik-Department, Technische Universität München

Die Methode der Pulsformanalyse zur Teilchendiskrimination wurde auf einen doppelseitig segmentierten Silizium-Streifendetektor (DSSSD) angewendet. Der 300 µm dicke DSSSD ist je Seite in 16 Streifen (Breite: p-Seite 285 µm / n-Seite 235 µm, Interstrip-Abstand: p-Seite 15 µm / n-Seite 65 µm) segmentiert. Er ist mit 7,1 × 7,1 mm² der kleinste Detektor einer Serie von Prototypen für den inneren Si-Detektor des EXL-Experiments bei FAIR. Wir präsentieren die Ergebnisse eines Experimentes, das am Tandem-Beschleuniger des Maier-Leibnitz-Laboratorium (TUM/LUM) in Garching durchgeführt wurde. Ziel war es die leichten Produkte (p, d, α) aus den Reaktionen eines 70 MeV ¹²C Strahls mit einem Mylartarget voneinander zu trennen. Durch Ausschluss von Interstrip-Ereignissen in der Offlineanalyse konnte eine gute Trennung von Alphateilchen und Protonen bis hinab zu einer Energie von 4 MeV demonstriert werden.

Diese Arbeit wurde gefördert durch BMBF (06DA9040I), GSI, MLL und HIC for FAIR.