Bonn 2010 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 58: Halbleiterdetektoren I

T 58.9: Vortrag

Montag, 15. März 2010, 18:45–19:00, HG VI

Entwicklung eines schnellen Auslesesystems für DEPFET-Sensoren — •Manuel Koch und Wermes Norbert — Physikalisches Institut, Universität Bonn

DEPFET-Pixelsensoren werden für das Belle2 Experiment erstmals als Spurdetektoren in den innersten Lagen eingesetzt. Hierfür ist u.a. eine hohe Auslesegeschwindigkeit erforderlich. Ein neues Prototyp-Auslesesystem wurde entwickelt. Dieses basiert auf einer neuen Generation von ASICs zur Auslese (DCD2, "drain current digitizer") und Steuerung (Switcher3) des DEPFET-Sensors. Der Auslesechip DCD ist in der Lage, DEPFET-Sensoren mit hoher Ausgangskapazität (60pF) rauscharm und schnell (90ns pro Zeile) auszulesen. Zusätzlich wurde ein neues FPGA-System entwickelt um die hohen Datenraten zu verarbeiten. Detaillierte Messergebnisse zur Charakterisierung des DCD2 ASIC werden präsentiert, ebenso deren Einfluss auf die nächste Generation des Auslesechips (DCDb). Basierend auf Ergebnissen zur erreichbaren Auslesegeschwindigkeit des DEPFET-Sensors wird der Wechsel von einer korrelierten Doppelabtastung des Signals auf einen Betriebsmodus mit nur einer Abtastung motiviert.