Bonn 2010 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 60: Halbleiterdetektoren III

T 60.10: Vortrag

Mittwoch, 17. März 2010, 16:15–16:30, HG V

Vorstellung einer flexiblen Teststation für die Entwicklung und Qualitätssicherung von hochbestrahlten Silizium-Streifen-Sensoren — Bernd Atz, Tobias Barvich, Felix Bögelspacher, Alexander Dierlamm, •Joachim Erfle, Frank Hartmann, Martin Frey, Karl-Heinz Hoffmann, Thomas Müller, Hans-Jürgen Simonis und Pia Steck — Institut für Experimentelle Kernphysik, Karlsruher Institut für Technologie

In modernen Beschleunigerexperimenten werden die Spurdetektoren immer häufiger aus hochauflösenden Siliziumstreifensensoren aufgebaut. Diese müssen die angestrebten größeren Strahlendosen, siehe zum Beispiel SLHC, überstehen. Um neue Sensor-Prototypen zuverlässig und detailliert vermessen, sowie später während der Produktion des Detektors eine gute Qualitätssicherung gewährleisten zu können, wurde eine neue automatische, flexible Teststation für hochbestrahlte Sensoren aufgebaut. Dabei werden die Ansteuerung sämtlicher Messgeräte, das Aufschalten der Messnadeln, das Anfahren verschiedener Positionen sowie die Regelung der Messtemperatur automatisiert durchgeführt.