Bonn 2010 – scientific programme

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 60: Halbleiterdetektoren III

T 60.7: Talk

Wednesday, March 17, 2010, 15:30–15:45, HG V

Entwicklung des USB-basierten Testsystems USBpix für die Auslesechips des ATLAS Pixeldetektors — •Malte Backhaus, Marlon Barbero, Fabian Hügging, Hans Krüger und Norbert Wermes — Physikalisches Institut, Universität Bonn

Die Pläne der Pixeldetektor-Kollaboration einen neuen B-Layer in den bestehenden Pixeldetektor einzubauen und besonders die geplante Luminositätserhöhung des LHC erfordern eine neue Generation von Auslesechips (FE-I4). Es wird ein neues, USB-basieretes Testsystem (USBpix) für die Auslesechips des ATLAS Pixeldetektors entwickelt, da das bestehende Testsystem nicht in der Lage ist, diese Auslesechips zu charakterisieren. Die Entwicklung von USBpix wurde als neues Testsystem mit voller Funktionalität für den bestehenden Auslesechip FE-I3 gestartet, wobei auf eine größtmögliche Anpassungsmöglichkeit sowie Erweiterbarkeit auf zukünftige Generationen von Auslesechips besonders geachtet wurde. Auf Basis dieses Systems wird das Testsystem weiterentwickelt um die Charakterisierung der FE-I4 Auslesechips zu ermöglichen. Basierend auf der bestehenden, offiziellen ATLAS Pixelsoftware PixLib wurde eine graphische Benutzeroberfläche entwickelt, die eine vollständige Charakterisierung des FE ermöglicht. Im Vortrag werden das FE-I3 Testsystem USBpix und der Stand der Weiterentwicklung auf den FE-I4 vorgestellt. Als Motivation der Leistungsfähigkeit werden einige Vergleichsmessungen zwischen altem und neuem Testsystem gezeigt und Ergebnisse von Rauschokkupanz-Studien als Beispiel der Anpassungsfähigkeit präsentiert.