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14:00 |
T 60.1 |
Charakterisierung einer neuen Generation von DEPFET-Sensoren — •Simone Esch, Norbert Wermes, Manuel Koch, Lars Reuen, Hans Krüger, Sergey Furletov, Julia Furletova und Johannes Schneider
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14:15 |
T 60.2 |
Charakterisierung von DEPFET Pixel-Matrizen mittels Teststrahlmessungen am CERN SPS — •Christian Geisler, Benjamin Schwenker und Ariane Frey
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14:30 |
T 60.3 |
Extraction of Parasitic RC Parameters of a DEPFET Pixel Matrix — •Christian Koffmane, Ladislav Andricek, Christian Kreidl, Hans-Günther Moser, Jelena Ninkovic, Rainer Richter, Andreas Ritter, and Andreas Wassatsch
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14:45 |
T 60.4 |
Hochauflösende Teststrahlmessungen mit dem DEPFET Teleskop — •Lars Reuen und Norbert Wermes
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15:00 |
T 60.5 |
Detaillierte Simulation des Verhaltens der CMS Si-Streifen-Sensoren — •Jörn Schwandt, Doris Eckstein, Robert Klanner und Georg Steinbrück
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15:15 |
T 60.6 |
Sensorsimulationen für zukünftige Siliciumdetektoren — •Matthias Bergholz
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15:30 |
T 60.7 |
Entwicklung des USB-basierten Testsystems USBpix für die Auslesechips des ATLAS Pixeldetektors — •Malte Backhaus, Marlon Barbero, Fabian Hügging, Hans Krüger und Norbert Wermes
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15:45 |
T 60.8 |
Operation experience with highly irradiated ATLAS FE-I3 SingleChipAssemblies — Claus Gößling, •Silke Herbst, Reiner Klingenberg, Daniel Münstermann, André Rummler, and Tobias Wittig
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16:00 |
T 60.9 |
Reduction of inactive edges of planar ATLAS pixel sensors for the IBL and Super-LHC upgrades — Claus Gößling, Jennifer Jentzsch, Reiner Klingenberg, Daniel Muenstermann, André Rummler, •Tobias Wittig, and Renate Wunstorf
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16:15 |
T 60.10 |
Vorstellung einer flexiblen Teststation für die Entwicklung und Qualitätssicherung von hochbestrahlten Silizium-Streifen-Sensoren — Bernd Atz, Tobias Barvich, Felix Bögelspacher, Alexander Dierlamm, •Joachim Erfle, Frank Hartmann, Martin Frey, Karl-Heinz Hoffmann, Thomas Müller, Hans-Jürgen Simonis und Pia Steck
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