Bonn 2010 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 62: Halbleiterdetektoren V

T 62.7: Vortrag

Freitag, 19. März 2010, 15:30–15:45, HG VI

Simulation des thermischen Verhaltens eines DEPFET-Moduls für das Belle-II-Experiment — Tobias Barvich, •Oksana Brovchenko, Stefan Heindl, Thomas Müller, Hans-Jürgen Simonis und Thomas Weiler — Institut für Experimentelle Kernphysik, Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Für den Pixeldetektor im BelleII Experiment sollen die besonders rauscharmen DEPFET-Sensoren verwendet werden. Das Institut für Experimentelle Kernphysik des KIT ist am mechanischen Aufbau des Pixeldetektors beteiligt.

Besondere Bedeutung kommt dabei der Untersuchung des thermischen Verhaltens zu, um das optimale Funktionieren der DEPFETs innerhalb eines definierten Temperaturbereichs zu ermöglichen.

Hierfür wurde eine auf der Finite-Elemente-Methode basierende Simulation erstellt. In dieser wurde der Einfluss der Kontakt- sowie der Konvektionskühlung auf die Temperaturverteilung in einem DEPFET-Modul untersucht. Die Richtigkeit der Simulation wurde anhand eines Testaufbaus überprüft.

Es werden die Ergebnisse dieser Simulation für verschiedene mechanische Halterungsstrukturen sowie Kühlungsmethoden vorgestellt.