Bonn 2010 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 63: Strahlenhärte von Halbleiterdetektoren I

T 63.10: Vortrag

Dienstag, 16. März 2010, 19:00–19:15, HG ÜR 6

Messkampagnen von Siliziumstreifendetektoren für den Einsatz am SLHC — •Karl-Heinz Hoffmann, Tobias Barvich, Felix Bögelspacher, Alexander Dierlamm, Joachim Erfle, Frank Hartmann, Thomas Müller, Hans-Jürgen Simonis und Pia Steck — Institut für Experimentelle Kernphysik, Karlsruher Institut für Technologie

Bei dem geplanten Upgrade des LHC zum SLHC wird aufgrund der dann stark erhöhten Strahlenbelastung auch eine Erneuerung des CMS Spurendetektors benötigt. Dafür wird an der Entwicklung strahlenharter Siliziumdetektoren gearbeitet. Das CEC (Central European Consortium), eine Kollaboration von mehreren europäischen Instituten, leistet Forschungs- und Entwicklungsarbeiten, um für den Tracker das passende Siliziummaterial und die bestmögliche Siliziumtechnologie zu finden. Zu diesem Zweck wurde zusammen mit mehreren Partnern eine umfangreiche Sensorproduktion mit selbstentwickelten Teststrukturen und Minisensoren aus verschiedenen Siliziumtypen (n- und p-Typ, MCZ, FZ, Epi) in Auftrag gegeben. Diese werden in einem umfangreichen Bestrahlungsprogramm untersucht. Um die Qualifizierung und Untersuchung dieser vielen Minisensoren und Teststrukturen koordiniert durchführen zu können, wurden Standardmessungen definiert und die Messprozesse der beteiligten Institute gegeneinander kalibriert. In meinem Vortrag möchte ich Anforderungen, Messungen und Ergebnisse der Kalibration präsentieren.