Bonn 2010 – scientific programme
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T: Fachverband Teilchenphysik
T 63: Strahlenhärte von Halbleiterdetektoren I
T 63.2: Talk
Tuesday, March 16, 2010, 17:00–17:15, HG ÜR 6
Teststrahlmessungen mit bestrahlten 3D Silizium-Streifendetektoren — •Michael Köhler, Karl Jakobs, Ulrich Parzefall und Liv Wiik — Albert-Ludwigs-Universität Freiburg
Für die innersten Lagen der Spurdetektoren am sLHC, dem für etwa 2019 geplanten Luminositätsupgrade des LHC, werden Detektoren mit ausgeprägter Strahlenhärte benötigt. Eine Option dafür stellen Siliziumsensoren in 3D-Technologie dar. Dabei werden säulenartige Elektroden in den Sensor geätzt, wodurch die Driftstrecke der erzeugten Ladungsträger auf den Abstand zwischen den Säulen begrenzt wird. Der Vorteil gegenüber herkömmlichen Siliziumdetektoren mit Elektroden auf der Vor- und Rückseite des Sensors äußert sich in einer verminderten Verarmungsspannung sowie einer geringeren Abschwächung des Signals durch Einfangen der Ladungsträger an Kristall-Defekten.
In diesem Vortrag werden Ergebnisse von Teststrahlmessungen mit 3D Silizium-Streifendetektoren vor und nach Bestrahlung mit einer Fluenz von 2· 1015 Neq/cm2 präsentiert. Teststrahlmessungen bieten die Möglichkeit, das Detektorverhalten in einer realistischen Umgebung zu untersuchen. Beobachtungen von deutlich erhöhtem Signal des bestrahlten Detektors deuten auf Ladungsträger-Vervielfachung hin.