Bonn 2010 – scientific programme
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T: Fachverband Teilchenphysik
T 63: Strahlenhärte von Halbleiterdetektoren I
T 63.7: Talk
Tuesday, March 16, 2010, 18:15–18:30, HG ÜR 6
TCT-Untersuchungen an Magnetic-Czochralski-Dioden nach gemischter Bestrahlung — •Robert Eber, Tobias Barvich, Wim de Boer, Alexander Dierlamm, Martin Frey, Thomas Müller und Pia Steck — Institut für Experimentelle Kernphysik, Karlsruher Institut für Technologie
Magnetic-Czochralski-Silizium hat sich Studien zufolge als mögliches strahlenhartes Sensormaterial für zukünftige Streifen-Spurdetektoren nach dem Upgrade des LHC herausgestellt. Untersuchungen an Magnetic-Czochralski-Dioden nach gemischter Bestrahlung mit Neutronen und Protonen mittels der Transient Current Technique – TCT – werden vorgestellt. Durch die Messungen mit einem roten Laser an n- und p-Typ-Dioden, welche bis zu einer Fluenz von 1015 neq/cm2 bestrahlt wurden, lassen sich Aussagen über die Einfangzeit (Trappingzeit) und Ladungssammlungseffizienz treffen. Studien zum Ausheilen (Annealing) der Dioden und die daraus resultierenden Veränderung in der Einfangzeit und Depletionsspannung schließen sich an. Zur Untersuchung des Ladungssammlungsverhalten spielt das elektrische Feld in der Struktur eine große Rolle. Mit Hilfe von Simulationsrechnungen kann aus dem zeitaufgelösten TCT-Signal die elektrische Feldverteilung in der Diode rekonstruiert werden.